QCM基礎耗散型石英微天平
最後更新日期 :
2024-09-02
EXPLORER系統特色:跟蹤質量變化:感知晶元表面形成的分子層,精度可至納克級,粘彈性能:通過D值變化同步檢測結構變化,實時數據顯示:在顯示器上直接觀察表面發生的變化,使用QSoft401軟體可進行動力學評估、溶脹、吸附、脫附等研究,無須標記:無須對分子做標記,多種表面選擇:適用於任何能形成薄膜的表面如金屬、高分子、化學改性表面等。 可以使用蒸發鍍膜,旋轉鍍膜,或者化學處理的方法在晶元表面製備薄膜,流量測試:特別設計的樣品池可以在控溫環境下進行流量測定,可結合使用電化學樣品池、光學樣品池、橢偏樣品池等(功能性樣品池需另購),易於清洗:所有與液體接觸的部件均可拆洗並在清洗池浸泡。
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